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可控硅怎么测量好坏，bta24可控硅咋量出好坏

小知识


如何测量可控硅的好坏 这是一个平板型的可控硅 。 要判断它的好坏有两种方法：
一种把它拿到晶体管特性图示仪或其它专用仪器上进行测量 ， 进而判断其好坏；另一种是简单地用万用表进行判断 。
用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面 ， 电阻应呈无穷大（表针基本不动） ， 再将表笔反过来亦如此 。 若这两步测量时电阻很小 ， 则说明该可控已损坏 。 否则进行如下测量：再将黑表笔（表内电池+）接控制极（中间的引出线） ， 红表笔（表内电池-）接阳极（离控制极较远的一个端面） ， 此时应呈现很大的电阻 ， 然后将表笔反过来测量 ， 电阻值仍应呈现很大（表针基本不动） ， 然后将黑表笔（表内电池+）接控制极（中间的引出线） ， 红表笔（表内电池-）接阴极（离控制极（中间的引出线）较近的一个端面） ， 此时应呈现几十~上百欧姆电阻 ， 然后将表笔反过来测量 ， 电阻值应比上次测量稍大（可能区别不明显） 。 测试结果若如上所述 ， 则说明可控硅是好的 ， 否则可控硅已损坏 。
中间的小坑是安装时定位用的无特殊用途 。
希望能对你有帮助 。
如何判断可控硅的好与坏最简单的方法 单向可控硅测量好坏方法：
用万用表测可控硅的好坏 。 用电阻x1k档 ， 正、反向测量A、K之间的电阻值 ， 均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻 ， 从十几欧姆至百欧姆 ， 功率越大欧姆值越小 。 正、反向电阻值相等或差异极小 。 说明可控硅的G、K并不像一般三极管的发射结 ， 有明显的正、反向电阻的差异 。 这种测量方式是有局限性的 ， 当A、K之间已呈故障开路状态时 ， 则无法测出好坏 。 有的G、K间电阻值极小 ， 也难以判别两控制极是否已经短路 。
如何测量可控硅的好坏？ 1、使用数字万用表检查可控硅
数字万用表拨至二极管挡 ， 红表笔接某一电极 ， 黑表笔分别 接触另外两个电极 。 如果其中有一次显示电压为零点几伏 ， 则此时红表笔接的是控制极G ， 黑表笔接的是阴极K ， 余下 的则是阳极A 。 假如两次都显示溢出 ， 说明红表笔接的不是 控制极 ， 需更换电极重测 。
测试可控硅的触发能力数字万用 PNP挡 ， 此时 hFE 插口上的两个 带负电 ， 电压为2.8V 。 可控硅的三个电极各用一根导线引出 ， 阳极A、阴极K 引线分别插人E 孔 ， 控制极G悬空 。 此时可控硅关断 ， 阳极电流为零 ， 将显示 000 。 把控制极 插人另一个E孔 。
显示值将从000 开始迅速增加 ， 直到显示 溢出符号后 ， 立即又变成 000 ， 然后再次从 000 变到溢出 ， 这样周而复始 。 采用此法可确定可控硅的触发是否可靠 。 但 这样的测试由于电流较大 ， 应尽量缩短测试时间 。 必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻 。 如果使用 NPN 挡 ， 可控硅阳极A 应接C 孔 ， 阴极K 孔 ， 以保证所加的是正向电压 。
拓展资料：
一、可控硅：

可控硅(Silicon Controlled Rectifier) 简称SCR ， 是一种大功率电器元件 ， 也称晶闸管 。 它具有体积小、效率高、寿命长等优点 。 在自动控制系统中 ， 可作为大功率驱动器件 ， 实现用小功率控件控制大功率设备 。 它在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用 。
可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种 。 双向可控硅也叫三端双向可控硅 ， 简称TRIAC 。 双向可控硅在结构上相当于两个单向可控硅反向连接 ， 这种可控硅具有双向导通功能 。 其通断状态由控制极G决定 。 在控制极G上加正脉冲(或负脉冲)可使其正向(或反向)导通 。 这种装置的优点是控制电路简单 ， 没有反向耐压问题 ， 因此特别适合做交流无触点开关使用 。

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